概述
ADM32F735DQ評估板是用于開發(fā)及驗(yàn)證ADM32F735DBG401Q芯片的學(xué)習(xí)和開發(fā)驗(yàn)證平臺(tái)。用戶可以使用此評估板學(xué)習(xí)和使用核間CAN互連、SPI互連通信功能。芯片ADC口、GPIO口全部引出，方便用戶使用調(diào)試。
性能特點(diǎn)
版本： 更新日期：2024-09-23
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